除雜PCB制程中若出現(xiàn)雜質(zhì)或殘銅,，清潔處理不當(dāng)后,，將金屬鹽類殘留在板面上,。一旦吸潮或分層吸濕，便會形成CAF問題,。因此需調(diào)整參數(shù)避免殘銅,，同時改進(jìn)清洗方法并充分清潔。評估CAF的方法：離子遷移評價通常使用梳型電路板為試料,，將成對的電極交錯連接成梳形圖案,，在高溫高濕的條件下給予一固定之直流電壓，經(jīng)過長時間之測試,，并觀察線路是否有瞬間短路之現(xiàn)象,。針對CAF引起的失效現(xiàn)象，一般采用的方法是逐步縮小范圍的方法,；失效樣品先測試電阻》》用顯微鏡觀察,，找出大概失效的位置》》退掉表面的綠油》》再觀察具體的位置》》磨切片觀察失效發(fā)生的原因選擇智能電阻時，用戶需要根據(jù)具體需求考慮精度,、穩(wěn)定性,、接口等因素，以便選擇適合的智能電阻產(chǎn)品,。東莞離子遷移電阻測試

5.1.硬件連接與操作步驟1)事先準(zhǔn)備好要求測試的PCB樣品,，接好測試線，插入相對應(yīng)的航空座,。2)把納伏表和可編程電源安裝好,，連接儀器與計算機(jī)通信線。3)接好機(jī)柜電源,，并檢查儀器是否有錯誤提示,，如有提示需先按照儀器說明把錯誤提示排除。4)根據(jù)軟件操作設(shè)置開始測試流程,。注意：※在測試的過程禁止觸摸被測物品?！箮щ姲尾鍦y試線的航空頭,。※如需設(shè)備檢修必須把電斷開,。本系統(tǒng)只提供自有版權(quán)的導(dǎo)通電阻實時監(jiān)控測試操作軟件,，Windows操作系統(tǒng)、MS-office軟件及相關(guān)數(shù)據(jù)庫由客戶自行購買*該系統(tǒng)可根據(jù)客戶的不同需求，定制特殊要求以實現(xiàn)更多功能浙江pcb板電阻測試設(shè)備智能電阻能夠提供更加便捷和精確的電阻測試,。

表面絕緣電阻（SIR）測試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓,，經(jīng)過長時間的試驗，觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生,。表面絕緣電阻（SIR）測試可以用來評估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問題,，也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會影響電子零件電氣特性的物質(zhì)，通過表面絕緣電阻（SIR）測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度,。當(dāng)PCB受到離子性物質(zhì)的污染,、或含有離子的物質(zhì)時，在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓,，電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下,，離子化金屬向相反的電極間移動（陰極向陽極轉(zhuǎn)移），相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象（類似錫須,，容易造成短路）,，這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當(dāng)存在這種現(xiàn)象時,，表面絕緣電阻（SIR）測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來,。

離子遷移絕緣電阻測試廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品制造和質(zhì)量控制過程中。它可以用于檢測電子元器件,、印刷電路板,、電子設(shè)備外殼等材料的質(zhì)量。通過測試,，可以及時發(fā)現(xiàn)材料中的離子遷移問題和絕緣電阻異常,，從而采取相應(yīng)的措施進(jìn)行修復(fù)或更換，確保電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,。離子遷移絕緣電阻測試的方法主要包括濕度試驗,、電壓加速試驗和絕緣電阻測量。濕度試驗是將材料置于高濕度環(huán)境中,，通過觀察離子遷移現(xiàn)象來評估材料的質(zhì)量,。電壓加速試驗是在高電壓條件下進(jìn)行離子遷移測試，以加速離子遷移速率,，從而更快地評估材料的質(zhì)量,。絕緣電阻測量是通過測量材料的絕緣電阻值來評估材料的絕緣性能。在電子設(shè)備領(lǐng)域,，表面阻抗測試SIR測試被認(rèn)為是評估用戶線路板組裝材料可靠性的有效評估手段,。

離子遷移（ECM/SIR/CAF)的要因分析與解決方案從材料方面：樹脂與玻纖紗束之間結(jié)合力不足；解決方案：優(yōu)化CCL制作參數(shù),；選擇抗分層的材料;填充空洞或樹脂奶油層不足,；解決方案：優(yōu)化CCL制作參數(shù),；選擇抗分層的材料;樹脂吸溫性差；解決方案：膠片與基板中的硬化劑由Dicy改為PN以減少吸水,；樹脂與玻纖清潔度差（含離子成份）,；解決方案：使用Anti-CAF的材料；銅箔銅芽較長,，易造成離子遷移,；解決方案：選用Lowprofilecopperfoil；多大在電子設(shè)備制造和維修過程中,，電阻測試是非常重要的一環(huán),。廣西離子遷移電阻測試方法

離子在單位強(qiáng)度(V/m)電場作用下的移動速度稱之為離子遷移率，它是分辨被測離子直徑大小的一個重要參數(shù),。東莞離子遷移電阻測試

Sir電阻測試可以應(yīng)用于各種不同的電路中,。無論是簡單的電路還是復(fù)雜的電路，都可以使用Sir電阻測試來測量電阻值,。這種測試方法不僅適用于實驗室環(huán)境,，也適用于工業(yè)生產(chǎn)中。在工業(yè)生產(chǎn)中,，Sir電阻測試可以用來檢測電路中的故障,，提高生產(chǎn)效率。除了測量電阻值,，Sir電阻測試還可以用來檢測電路中的其他問題,。例如，它可以用來檢測電路中的短路和斷路,。通過測量電磁場的變化,，可以判斷電路中是否存在短路或斷路問題。這種測試方法可以幫助工程師快速定位電路中的問題,，并進(jìn)行修復(fù),。東莞離子遷移電阻測試