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蘇州g線光刻膠單體

發(fā)布時(shí)間:2024-12-23 15:47:43   來(lái)源:青島力拓機(jī)械有限公司   閱覽次數(shù):57519次   

有人研究了不同有機(jī)配體對(duì)此類光刻膠光刻性能的影響,。有機(jī)配體會(huì)影響光刻膠的靈敏度,。通過(guò)配體交換法,,他們制備了反二甲基丙烯酸(DMA)和鄰甲基苯甲酸(TA)配體的HfO2,、ZrO2體系,。其中HfO2-DMA和ZrO2-DMA體系的靈敏度較高,,為1.6~2.4mJ·cm?2,,可實(shí)現(xiàn)20nm線寬的光刻圖案。此外,,配體的種類還將影響光刻膠的溶解性,。Li等報(bào)道了不同濃度的不同羧酸與ZrO2或HfO2配合之后的溶解度變化情況,發(fā)現(xiàn)不飽和的羧酸配體能獲得更大的溶解性差異,。光刻膠所屬的微電子化學(xué)品是電子行業(yè)與化工行業(yè)交叉的領(lǐng)域,,是典型的技術(shù)密集行業(yè),。蘇州g線光刻膠單體

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2005年,研究人員利用美國(guó)光源的高數(shù)值孔徑微觀曝光工具評(píng)價(jià)了RohmandHaas公司研發(fā)的新型ESCAP光刻膠MET-1K,,并將其與先前的EUV-2D光刻膠相比較,。與EUV-2D相比,MET-1K添加了更多的防酸擴(kuò)散劑,。使用0.3NA的EUV曝光工具,,在90~50nm區(qū)間,EUV-2D和MET-1K的圖形質(zhì)量都比較好,;但當(dāng)線寬小于50nm時(shí),,EUV-2D出現(xiàn)明顯的線條坍塌現(xiàn)象,而MET-1K則直到35nm線寬都能保持線條完整,。在45nm線寬時(shí),,MET-1K仍能獲得較好的粗糙度,LER達(dá)到6.3nm,??梢奙ET-1K的光刻性能要優(yōu)于EUV-2D。從此,,MET-1K逐漸代替EUV-2D,,成為新的EUV光刻設(shè)備測(cè)試用光刻膠。浙江LCD觸摸屏用光刻膠光刻膠按應(yīng)用領(lǐng)域分類,,可分為 PCB 光刻膠,、顯示面板光刻膠,、半導(dǎo)體光刻膠及其他光刻膠,。

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2005 年起,Gonsalves 課題組將陽(yáng)離子基團(tuán)(硫鎓鹽等)修飾的甲基丙烯酸酯與其他光刻膠單體共聚,,制備了一系列側(cè)基連接光致產(chǎn)酸劑的光刻膠,,聚合物中金剛烷基團(tuán)的引入可以有效提升抗刻蝕性。這類材料與主體材料和產(chǎn)酸劑簡(jiǎn)單共混的配方相比,,呈現(xiàn)出更高的靈敏度和對(duì)比度,。2009年起,Thackeray等則將陰離子基團(tuán)連接在高分子主鏈上,,通過(guò)EUV曝光可以得到的光刻圖形分辨率為22nm光刻圖形,,其對(duì)應(yīng)的靈敏度和線邊緣粗糙度分別為12mJ·cm?2和4.2nm。2011年,,日本富士膠片的Tamaoki等也報(bào)道了一系列對(duì)羥基苯乙烯型主鏈鍵合光致產(chǎn)酸劑的高分子光刻膠,,并研究了不同產(chǎn)酸劑基團(tuán)、高分子組成對(duì)分辨率,、靈敏度和粗糙度的影響,,最高分辨率可達(dá)17.5nm,。

所謂光刻技術(shù),指的是利用光化學(xué)反應(yīng)原理把事先準(zhǔn)備在掩模版上的圖形轉(zhuǎn)印到一個(gè)襯底(晶圓)上,,使選擇性的刻蝕和離子注入成為可能的過(guò)程,,是半導(dǎo)體制造業(yè)的基礎(chǔ)之一。隨著半導(dǎo)體制造業(yè)的發(fā)展,,光刻技術(shù)從曝光波長(zhǎng)上來(lái)區(qū)分,,先后經(jīng)歷了g線(436nm)、i線(365nm),、KrF(248nm),、ArF(193nm,包括干式和浸沒(méi)式)和極紫外(EUV,,13.5nm)光刻,。對(duì)應(yīng)于不同的曝光波長(zhǎng),所使用的光刻膠也得到了不斷的發(fā)展,。目前7nm和5nm技術(shù)節(jié)點(diǎn)已經(jīng)到來(lái),,根據(jù)各個(gè)技術(shù)的芯片制造企業(yè)公告,EUV光刻技術(shù)已正式導(dǎo)入集成電路制造工藝,。在每一代的光刻技術(shù)中,,光刻膠都是實(shí)現(xiàn)光刻過(guò)程的關(guān)鍵材料之一。光刻膠也稱為光致抗蝕劑,,是一種光敏材料,,受到光照后特性會(huì)發(fā)生改變,主要應(yīng)用于電子工業(yè)和印刷工業(yè)領(lǐng)域,。

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由于EUV光刻膠膜較薄,,通常小于100nm,對(duì)于精細(xì)的線條,,甚至不足50nm,,因此光刻膠頂部與底部的光強(qiáng)差異便顯得不那么重要了。而很長(zhǎng)一段時(shí)間以來(lái),,限制EUV光刻膠發(fā)展的都是光源功率太低,,因此研發(fā)人員開始反過(guò)來(lái)選用對(duì)EUV光吸收更強(qiáng)的元素來(lái)構(gòu)建光刻膠主體材料。于是,,一系列含有金屬的EUV光刻膠得到了發(fā)展,,其中含金屬納米顆粒光刻膠是其中的典型。2010年,,Ober課題組和Giannelis課題組首度報(bào)道了基于HfO2的金屬納米顆粒光刻膠,,并研究了其作為193nm光刻膠和電子束光刻膠的可能性。隨后,,他們將這一體系用于EUV光刻,,并將氧化物種類拓寬至ZrO2,。他們以異丙醇鉿(或鋯)和甲基丙烯酸(MAA)為原料,通過(guò)溶膠-凝膠法制備了穩(wěn)定的粒徑在2~3nm的核-殼結(jié)構(gòu)納米顆粒,。納米顆粒以HfO2或ZrO2為核,,具有很高的抗刻蝕性和對(duì)EUV光的吸收能力;而有機(jī)酸殼層不但是光刻膠曝光前后溶解度改變的關(guān)鍵,,還能使納米顆粒穩(wěn)定地分散于溶劑之中,,確保光刻膠的成膜性。ZrO2-MAA納米材料加入自由基引發(fā)劑后可實(shí)現(xiàn)負(fù)性光刻,,在4.2mJ·cm?2的劑量下獲得22nm寬的線條,;而加入光致產(chǎn)酸劑曝光并后烘,利用TMAH顯影則可實(shí)現(xiàn)正性光刻,。目前,,我國(guó)光刻膠自給率較低,生產(chǎn)也主要集中在中低端產(chǎn)品,,國(guó)產(chǎn)替代的空間廣闊,。華東PCB光刻膠集成電路材料

光刻膠通過(guò)光化學(xué)反應(yīng),經(jīng)曝光,、顯影等光刻工序?qū)⑺枰奈⒓?xì)圖形從光罩(掩模版)轉(zhuǎn)移到待加工基片上,。蘇州g線光刻膠單體

環(huán)狀單分子樹脂中除了杯芳烴類物質(zhì)以外,還有一類被稱為“水車”(Noria)的光刻膠,,該類化合物由戊二醛和間苯二酚縮合而成,,是一種中心空腔的雙層環(huán)梯狀結(jié)構(gòu)分子,外形像傳統(tǒng)的水車,,因此得名,,起初在2006年時(shí)由日本神奈川大學(xué)的Nishikubo課題組報(bào)道出來(lái)。隨后,,日本JSR公司的Maruyama課題組將Noria改性,,通過(guò)金剛烷基團(tuán)保護(hù)得到了半周期為22nm的光刻圖形,。但是這種光刻膠的靈敏度較低,、粗糙度較大,仍需進(jìn)一步改進(jìn)才能推廣應(yīng)用,。蘇州g線光刻膠單體

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