AF與ECM/SIR都是一個(gè)電化學(xué)過程,；從產(chǎn)生的條件來看（都需要符合下面3個(gè)條件）：電解液環(huán)境,，即濕度與離子（Electrolyte–humidityandionicspecies）；施加偏壓（Voltagebias–Forcethatdrivesthereaction）;存在離子遷移的通道意味著玻纖與樹脂的結(jié)合間存在缺陷,，或線與線間存在雜物等,；（“Pathway”–Awayfortheionstomovefromtheanodetothecathode；Thepathwayisalongtheglassfiberswhentheresinimpregnationtotheglassfibershavedefects）,；加劇其產(chǎn)生的條件類似：高濕環(huán)境（Highhumidityrate）,；高電壓（HigherVoltagelevels）；高溫環(huán)境（Highertemperature）,；離子遷移的表現(xiàn)可以通過表面絕緣電阻（SIR）測試電阻值顯現(xiàn)出來,。湖北電阻測試直銷價(jià)

Sir電阻測試可以應(yīng)用于各種不同的電路中。無論是簡單的電路還是復(fù)雜的電路,，都可以使用Sir電阻測試來測量電阻值。這種測試方法不僅適用于實(shí)驗(yàn)室環(huán)境,，也適用于工業(yè)生產(chǎn)中,。在工業(yè)生產(chǎn)中，Sir電阻測試可以用來檢測電路中的故障,，提高生產(chǎn)效率,。除了測量電阻值，Sir電阻測試還可以用來檢測電路中的其他問題,。例如,，它可以用來檢測電路中的短路和斷路。通過測量電磁場的變化,，可以判斷電路中是否存在短路或斷路問題,。這種測試方法可以幫助工程師快速定位電路中的問題，并進(jìn)行修復(fù),。廣東智能電阻測試系統(tǒng)?授權(quán)手機(jī)APP可以遠(yuǎn)程進(jìn)行相關(guān)管理,、操作，查看樣品監(jiān)測數(shù)據(jù),。

試驗(yàn)通道數(shù)1-256通道試驗(yàn)時(shí)間0---9999小時(shí)（可以任意設(shè)定）低阻測試測試范圍1mΩ---103Ω測量精度±（1%RD+10μΩ）**小分辨率1μΩ測試電流0.05-3.00(A)測試速度≦0.5秒/通道測試時(shí)分組16通道/組,，各組所有參數(shù)可以**設(shè)置高、低溫區(qū)限值可分別任意設(shè)置電阻測試模式定時(shí)觸發(fā),、溫度觸發(fā)測試數(shù)據(jù)輸出圖表,，EXCEL，TXT等格式，溫度和阻值曲線可重疊顯示,。超限報(bào)警可設(shè)定配件測試電纜PTFE耐高溫電纜溫度監(jiān)測0-4通道溫度監(jiān)測選件溫度范圍：-70℃~+200℃,，精度±1℃*本系統(tǒng)只提供自有版權(quán)的導(dǎo)通電阻實(shí)時(shí)監(jiān)控測試操作軟件，Windows操作系統(tǒng),、MS-office軟件及相關(guān)數(shù)據(jù)庫由客戶自行購買*該系統(tǒng)可根據(jù)客戶的不同需求,，定制特殊要求以實(shí)現(xiàn)更多功能

除雜PCB制程中若出現(xiàn)雜質(zhì)或殘銅，清潔處理不當(dāng)后,，將金屬鹽類殘留在板面上,。一旦吸潮或分層吸濕，便會(huì)形成CAF問題,。因此需調(diào)整參數(shù)避免殘銅,，同時(shí)改進(jìn)清洗方法并充分清潔。評估CAF的方法：離子遷移評價(jià)通常使用梳型電路板為試料,，將成對的電極交錯(cuò)連接成梳形圖案,，在高溫高濕的條件下給予一固定之直流電壓，經(jīng)過長時(shí)間之測試,，并觀察線路是否有瞬間短路之現(xiàn)象,。針對CAF引起的失效現(xiàn)象，一般采用的方法是逐步縮小范圍的方法,；失效樣品先測試電阻》》用顯微鏡觀察,，找出大概失效的位置》》退掉表面的綠油》》再觀察具體的位置》》磨切片觀察失效發(fā)生的原因從而使絕緣體處于離子導(dǎo)電狀態(tài)。顯然,，這將使絕緣體的絕緣性能下降甚至成為導(dǎo)體而造成短路故障,。

CAF形成過程：1、常規(guī)FR4P片是由玻璃絲編輯成玻璃布,，然后涂環(huán)氧樹脂半固化后制成,；2、樹脂與玻纖之間的附著力不足,，或含浸時(shí)親膠性不良,，兩者之間容易出現(xiàn)間隙；3,、鉆孔等機(jī)械加工過程中,，由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對樹脂的粘合力進(jìn)一步破壞；4,、距離較近的兩孔若電勢不同,，則正極部分銅離子在電壓驅(qū)動(dòng)下逐漸向負(fù)極遷移。CAF產(chǎn)生的原因：1,、原料問題1)樹脂身純度不良,，如雜質(zhì)太多而招致附著力不佳,；2)玻纖束之表面有問題，如耦合性不佳,，親膠性不良,；3)樹脂之硬化劑不良，容易吸水,；4)膠片含浸中行進(jìn)速度太快,；常使得玻纖束中應(yīng)有的膠量尚未全數(shù)充實(shí)填飽造成氣泡殘存。2,、流程工藝問題1)孔粗－鉆孔太過粗糙,，造成玻纖束被拉松或分離而出現(xiàn)間隙；2)除膠渣－PCB制程之PTH中的除膠渣過度,，或沉銅浸入玻纖束發(fā)生燈芯效應(yīng),，過度的燈芯加上孔與孔相距太近時(shí)，可能會(huì)使得其間板材的絕緣品質(zhì)變差加速產(chǎn)生ＣＡＦ效應(yīng),。智能電阻具有更加便捷的操作和數(shù)據(jù)處理能力,。廣東pcb離子遷移絕緣電阻測試訂做價(jià)格

提供質(zhì)量的售后服務(wù)對于電阻測試設(shè)備的供應(yīng)商來說至關(guān)重要。湖北電阻測試直銷價(jià)

離子遷移絕緣電阻測試廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品制造和質(zhì)量控制過程中,。它可以用于檢測電子元器件,、印刷電路板、電子設(shè)備外殼等材料的質(zhì)量,。通過測試,，可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)材料中的離子遷移問題和絕緣電阻異常，從而采取相應(yīng)的措施進(jìn)行修復(fù)或更換,，確保電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。離子遷移絕緣電阻測試的方法主要包括濕度試驗(yàn),、電壓加速試驗(yàn)和絕緣電阻測量,。濕度試驗(yàn)是將材料置于高濕度環(huán)境中，通過觀察離子遷移現(xiàn)象來評估材料的質(zhì)量,。電壓加速試驗(yàn)是在高電壓條件下進(jìn)行離子遷移測試,，以加速離子遷移速率，從而更快地評估材料的質(zhì)量,。絕緣電阻測量是通過測量材料的絕緣電阻值來評估材料的絕緣性能,。湖北電阻測試直銷價(jià)