蒙脫石散及雜質的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急,、慢性腹瀉的藥物,。蒙脫石散的主要成分為層狀結構的粘土礦物蒙脫石,。根據中國藥典,，蒙脫石散的鑒別和雜質含量的分析的主要手段為XRD,。不論在何種應用場合,，它都是值得您選擇的探測器：高的計數率,、動態(tài)范圍和能量分辨率。布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976c）整個角度范圍內的準直保證,。D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,，是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）安裝在標準陶瓷X射線管前面,，可多達6種不同的光束幾何之間自動地進行電動切換,，無需認為干預。湖北布魯克XRD衍射儀配件

不論您的預算如何,，D8ADVANCEECO系列都能通過儀器配置為您帶來好的性能,。由于降低了對水和電力等資源的需求，其運營成本降低,。出色的儀器質量為可靠性提供了保證,，同時布魯克還為之提供組件質量保證。無外部供水成本1kW高效發(fā)生器降低電力成本,，無外部冷卻器耗電延長了X射線管的使用壽命X射線管質量保證：D8ADVANCEECO可用的所有高亮度X射線源均享有3年保修測角儀質量保證：測角儀采用免維護的堅固設計,，可為您帶來機械強度和較長的使用壽命，因此能夠為您提供好的數據質量,。其中,，布魯克提供10年保修。儀器準直保證探測器質量保證湖北進口XRD衍射儀配件XRD可研究材料的結構和物理特性,，是 重要的材料研究工具之一,。

超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點技術的發(fā)展，薄膜厚度越來越薄,。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在該技術節(jié)點的a20范圍內,。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,，XRR是的測量技術,。由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前,，在峰位,、強度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。

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D8ADVANCEECO可提供高亮度1kW線焦點X射線源，其能耗極低,，無需外設水冷，對實驗室基礎設施亦無特殊要求,。您只需準備家用壁式插座即可,。因此，您將能簡單快捷地完成安裝和定位,。D8ADVANCEECO將在分析性能不打折扣的前提下,，將擁有成本和立式XRD儀器的生態(tài)足跡降至,。插件分析：無需外設水冷：每年可節(jié)約高達1.700m3的自來水耗電減少50％左右需單相電源,，由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證。目前,，在峰位,、強度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。D8D對地質構造研究，借助μXRD，哪怕是很小的包裹體定性相分析和結構測定都不在話下,。天津實驗室檢測XRD衍射儀

D8 DISCOVER系列是市面上準確,、功能強大和靈活的X射線衍射解決方案,。湖北布魯克XRD衍射儀配件

材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品，因此擴展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力,。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進行電動移動：X軸25mm,、Y軸70mm和Z軸52mm，可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品,；緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺的Phi旋轉角度不受限制,，Psi傾斜度在-5°到95°之間，可用于應力,、織構和外延薄膜分析。另外,，它還具有真空多用途通孔,，可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺,，將樣品固定在適當位置,。二者均可用于溫控樣品臺,，進行非環(huán)境分析,。另外，它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統(tǒng),，輕松更換樣品臺,。湖北布魯克XRD衍射儀配件